IP68防護(hù)等級(jí)試驗(yàn)是一項(xiàng)至關(guān)重要的測(cè)試,旨在確保設(shè)備在極端環(huán)境下仍能保持其正常功能和耐用性。這一試驗(yàn)不僅涵蓋了防水性能的測(cè)試,還包括了防塵能力的驗(yàn)證,是確保設(shè)備品質(zhì)和安全性的重要環(huán)節(jié)。
IP68防護(hù)等級(jí)試驗(yàn)主要包括防塵試驗(yàn)(IP6X)和防水試驗(yàn)(IPX8)兩個(gè)部分。
一、測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
IP68防護(hù)等級(jí)試驗(yàn)主要依據(jù)以下標(biāo)準(zhǔn):
GB/T 4208-2017《外殼防護(hù)等級(jí)(IP代碼)》;
IEC 60529:2013《外殼防護(hù)等級(jí)(IP代碼)》。
二、測(cè)試內(nèi)容
IP68防護(hù)等級(jí)試驗(yàn)由IP6X防塵試驗(yàn)和IPX8防水試驗(yàn)組成。
(一)IP6X防塵試驗(yàn)
試驗(yàn)方法:
對(duì)受試樣品的殼體進(jìn)行抽負(fù)壓,使殼體內(nèi)外形成負(fù)壓差。
將樣品放入砂塵試驗(yàn)箱中,試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間為8小時(shí)。
試驗(yàn)后,肉眼觀察樣品外殼內(nèi)應(yīng)無明顯的灰塵沉積。
防止接近危險(xiǎn)部件試驗(yàn):
使用直徑1mm的試驗(yàn)金屬線不得進(jìn)入樣品外殼,并與危險(xiǎn)部件保持足夠的間隙。
(二)IPX8防水試驗(yàn)
試驗(yàn)方法:
IPX8是一個(gè)開放等級(jí),測(cè)試的水深度和試驗(yàn)時(shí)間由使用方和生產(chǎn)方共同協(xié)商確定。
一般要求水深2米,試驗(yàn)時(shí)間為1小時(shí)(標(biāo)準(zhǔn)并未有明確的規(guī)定,水的深度高于1米,測(cè)試時(shí)長(zhǎng)高于30分鐘都是可以的)。
試驗(yàn)后,樣品外殼內(nèi)應(yīng)無進(jìn)水,即使有少量進(jìn)水,也不應(yīng)影響設(shè)備的正常操作或破壞其安全性。
三、測(cè)試步驟
準(zhǔn)備樣機(jī)
將待測(cè)試的樣機(jī)準(zhǔn)備好,包括外殼、接口、門體縫隙、屏幕、通風(fēng)窗、排風(fēng)扇等做好防護(hù)設(shè)計(jì)。
進(jìn)行IPX8防水測(cè)試
將樣機(jī)放入防浸水壓力罐中,確保樣機(jī)完全浸沒于水中(常規(guī)要求水下2米),并保持一定的時(shí)間(通常為1小時(shí))。
進(jìn)行IP6X防塵測(cè)試
防水測(cè)試后將受試樣機(jī)復(fù)原安裝好,對(duì)樣機(jī)殼體進(jìn)行抽負(fù)壓,使其內(nèi)外形成負(fù)壓差,放入砂塵試驗(yàn)箱中,試驗(yàn)時(shí)間為8小時(shí)。
進(jìn)行測(cè)試評(píng)估
IPX8防水試驗(yàn)后,樣機(jī)殼體內(nèi)部沒有水滴進(jìn)入,判定通過防水測(cè)試。
IP6X防塵試驗(yàn)后,樣機(jī)殼體內(nèi)部沒有灰塵進(jìn)入,判定為通過了防塵測(cè)試。
四、送樣前注意事項(xiàng)
1、樣品安裝螺釘最好在密封圈以外,若螺釘密封不嚴(yán)實(shí)導(dǎo)致水滴直徑進(jìn)入到電路板倉(cāng);
2、樣品蓋子四周需要有密封膠墊,密封膠墊軟硬適中富有彈性,拐角處完整不中斷;
3、對(duì)于不考核的部位,也應(yīng)該有相應(yīng)的防護(hù),若水滴或灰塵從該處進(jìn)入,導(dǎo)致檢測(cè)結(jié)果不好判斷;
4、樣品屏幕縫隙具備相應(yīng)的防水設(shè)計(jì),出線端子即使不出線,應(yīng)該有相應(yīng)的防水帽蓋住。
5、受試樣品的數(shù)量,對(duì)于可拆解的樣品提供一臺(tái)樣機(jī)就可以,對(duì)于不可以拆解或拆開后就無法復(fù)原的樣機(jī),需要提供2臺(tái)樣機(jī)進(jìn)行測(cè)試,一臺(tái)做防塵試驗(yàn)IP6X,一臺(tái)做防水試驗(yàn)IPX8。
6、IP68防護(hù)等級(jí)測(cè)試過程中不需要通電,標(biāo)準(zhǔn)要求試驗(yàn)后,開蓋檢查看樣機(jī)殼體內(nèi)部是否進(jìn)塵、是否進(jìn)水。
上一篇:靜電放電ESD抗擾度試驗(yàn)等級(jí)有哪些,如何有效抑制靜電放電的干擾
下一篇:金屬粉末干篩分法測(cè)定粒度檢測(cè)
- 解析電子電器產(chǎn)品光照老化測(cè)試與壽命可靠性優(yōu)化的關(guān)系
- 《分析電子電器在光照老化測(cè)試下的壽命變化規(guī)律》
- 《如何利用光照老化測(cè)試保障電子電器產(chǎn)品壽命與可靠性》
- 探究光照老化測(cè)試對(duì)電子電器產(chǎn)品壽命和可靠性的具體影響
- 《電子電器產(chǎn)品光照老化測(cè)試方法與標(biāo)準(zhǔn)解析》
- 《ESPEC 射頻干擾測(cè)試在電子電器壽命可靠性分析中的作用》
- 《電子電器 ESPEC 跌落測(cè)試與壽命可靠性分析》
- 《ESPEC 測(cè)試在電子電器高溫工作壽命評(píng)估中的應(yīng)用》
- 申請(qǐng)gost認(rèn)證流程規(guī)范介紹
- cutr認(rèn)證檢測(cè)認(rèn)證內(nèi)容介紹