表面粗糙度測(cè)量方法

1、比較法

將表面粗糙度比較樣塊（簡(jiǎn)稱(chēng)樣塊）根據(jù)視覺(jué)和觸覺(jué)與被測(cè)表面比較，判斷被測(cè)表面粗糙度相當(dāng)于那一數(shù)值，或測(cè)量其反射光強(qiáng)變化來(lái)評(píng)定表面粗糙度（見(jiàn)激光測(cè)長(zhǎng)技術(shù)）。樣塊是一套具有平面或圓柱表面的金屬塊，表面經(jīng)磨、車(chē)、鏜、銑、刨等切削加工，電鑄或其他鑄造工藝等加工而具有不同的表面粗糙度。有時(shí)可直接從工件中選出樣品經(jīng)過(guò)測(cè)量并評(píng)定合格后作為樣塊。利用樣塊根據(jù)視覺(jué)和觸覺(jué)評(píng)定表面粗糙度的方法雖然簡(jiǎn)便，但會(huì)受到主觀因素影響，常不能得出正確的表面粗糙度數(shù)值。

2、印模法

在實(shí)際測(cè)量中，常會(huì)遇到深孔，盲孔，凹槽，內(nèi)螺紋等既不能使用儀器直接測(cè)量，也不能使用樣板比較的表面，這是常用印模法，印摸法是利用一些無(wú)流動(dòng)性和彈性的塑性材料（如石蠟等）貼合在 被測(cè)表面上，將被測(cè)表面的輪廓復(fù)制成模，然后測(cè)量印模，從而來(lái)評(píng)定被測(cè)表面的粗糙度。

3、觸針?lè)?/p>

利用針尖曲率半徑為2微米左右的金剛石觸針沿被測(cè)表面緩慢滑行，金剛石觸針的上下位移量由電學(xué)式長(zhǎng)度傳感器轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，經(jīng)放大、濾波、計(jì)算后由顯示儀表指示出表面粗糙度數(shù)值，也可用記錄器記錄被測(cè)截面輪廓曲線(xiàn)。
一般將僅能顯示表面粗糙度數(shù)值的測(cè)量工具稱(chēng)為表面粗糙度測(cè)量?jī)x，同時(shí)能記錄表面輪廓曲線(xiàn)的稱(chēng)為表面粗糙度輪廓儀這兩種測(cè)量工具都有電子計(jì)算電路或電子計(jì)算機(jī)，它能自動(dòng)計(jì)算出輪廓算術(shù)平均偏差Rα，微觀不平度十點(diǎn)高度RZ，輪廓最大高度Ry和其他多種評(píng)定參數(shù)，測(cè)量效率高，適用于測(cè)量Rα為0.025~6.3微米的表面粗糙度。

4、干涉法

利用光波干涉原理 （見(jiàn)平晶、激光測(cè)長(zhǎng)技術(shù)）將被測(cè)表面的形狀誤差以干涉條紋圖形顯示出來(lái)，并利用放大倍數(shù)高 （可達(dá)500倍）的顯微鏡將這些干涉條紋的微觀部分放大后進(jìn)行測(cè)量，以得出被測(cè)表面粗糙度。
應(yīng)用此法的表面粗糙度測(cè)量工具稱(chēng)為干涉顯微鏡。這種方法適用于測(cè)量Rz和Ry為 0.025~0.8微米的表面粗糙度。

5、光切法

光線(xiàn)通過(guò)狹縫后形成的光帶投射到被測(cè)表面上，以它與被測(cè)表面的交線(xiàn)所形成的輪廓曲線(xiàn)來(lái)測(cè)量表面粗糙度。由光源射出的光經(jīng)聚光鏡、狹縫、物鏡1后，以45°的傾斜角將狹縫投影到被測(cè)表面，形成被測(cè)表面的截面輪廓圖形，然后通過(guò)物鏡 2將此圖形放大后投射到分劃板上。
利用測(cè)微目鏡和讀數(shù)鼓輪先讀出h值，計(jì)算后得到H值。應(yīng)用此法的表面粗糙度測(cè)量工具稱(chēng)為光切顯微鏡。它適用于測(cè)量RZ和Ry為0.8~100微米的表面粗糙度，需要人工取點(diǎn)，測(cè)量效率低。